連接器的接觸電阻測(cè)試方法

注：此TP-23早期頒布EIA RS-364

1.0 TP-23低等位接觸電阻

2.0 目的

本方法是介紹一種在標(biāo)準(zhǔn)方法測(cè)量一配套端子，在絕緣層沒(méi)有被破壞或熔化的情況下的接觸電阻。

3.0 樣品準(zhǔn)備

3.1 測(cè)試樣品由一對(duì)配合的端子組成，如一個(gè)錫腳和一焊座﹐極性相反的相配套端子或印刷電路板和它的配合端子。

3.2 用規(guī)格中所說(shuō)明的電線按圖2A所示進(jìn)行聯(lián)機(jī)﹐端子配合如圖2B所示﹒

3.3 測(cè)試樣品應(yīng)組裝成能進(jìn)行正常工作的連接器﹐不能安裝成連接器的樣品不得以任何其它方法強(qiáng)行安裝，若強(qiáng)行安裝會(huì)影響相配端子內(nèi)接觸面的強(qiáng)力。

4.0 測(cè)試方法

4.1 測(cè)試儀器

測(cè)試儀器包括﹕

4.1.1滿偏量程精確至±2%或確切讀數(shù)精確至±10%的合適范圍的毫伏表。

4.1.2一個(gè)低等位回路具備傳遞和準(zhǔn)確測(cè)量最大電流100mA和最大開(kāi)路電位20 mV的能力。圖1所示的一種可行的回路(此回路輸出測(cè)試電流為1mA)，對(duì)于交流測(cè)量﹐此頻率不超過(guò)2KHz﹒

4.1.3測(cè)量可用直流或交流電進(jìn)行﹐但無(wú)論如何﹐應(yīng)當(dāng)控制直流測(cè)試。

4.2測(cè)試步驟

4.2.1連接測(cè)試樣品T1和T2。

4.2.2在測(cè)試回路正方向上加電壓﹐并紀(jì)錄電壓降包括電壓Vf和電流If的極性。

4.2.3在測(cè)試回路反方向上加電壓﹐并紀(jì)錄電壓降包括電壓Vr和電流Ir的極性。

4.2.4接觸電阻等于正反方向壓降的差的絕對(duì)值除以正向電流和反向電流絕對(duì)值之和，公式如下﹕

R=|Vf-Vr |/(|If|+| Ir |)

其中﹕ R=接觸電阻 單位﹕奧姆

Vf =正向壓降包括極性 單位﹕伏特

Vr =反向壓降包括極性 單位﹕伏特

If =正向測(cè)試電流 單位﹕安培

Ir =反向測(cè)試電流 單位﹕安培

4.2.5 預(yù)防措施

4.2.5.1測(cè)試前或測(cè)試期間﹐測(cè)試樣品加壓不得超過(guò)20mV。

4.2.5.2 導(dǎo)線總電阻(包括接觸端和主要電阻)應(yīng)不少于100mΩ。

4.2.5.3 在任何預(yù)先狀態(tài)和環(huán)境暴露之間低壓電阻測(cè)試完成前﹐不可以中斷端子接觸。

5.0 細(xì)節(jié)說(shuō)明

當(dāng)按規(guī)格進(jìn)行測(cè)試時(shí),下列細(xì)節(jié)要被說(shuō)明﹕

(a) 被測(cè)樣品數(shù)目﹔

(b) 導(dǎo)線的類(lèi)型和尺寸﹔

(c) 電阻的要求﹔

(d) 尺寸Y-Y(見(jiàn)圖2A)

6.0 參考文件

數(shù)據(jù)窗體應(yīng)包括﹕

(a)測(cè)試標(biāo)題﹔

(b)樣品描述﹔

(c)所用測(cè)試儀器﹔

(d)測(cè)試步驟﹔

(e)評(píng)估和觀測(cè)﹔

(f)測(cè)試日期和操作者姓名﹔

(g)樣品分析。